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3.5.1.1规范试片首要用于查验磁粉检查设备、磁粉和磁悬液的归纳功用，了解被检工件外表有用磁场强度和方向、有用检查区以及磁化办法是不是准确。规范试片有A1型、C型、D型和M1型。其规范、规范和图形见表2。A1型、C型和D型规范试片应契合JB/T6065的规矩。表2 规范试片的类型、规范和图形类型规范:缺点槽深/片厚度，μm图形和规范，mmA1型A1-7/50A1-15/50A1-30/50A1-15/100A1-30/100A-60/100C型C-8/50C-15/50D型D-7/50D-15/50M1型φ12mm7/50φ9mm15/50φ6mm30/50注:C型规范试片可剪成5个小试片分别运用。3.5.1.2磁粉检查时一般应选用A1-30，100型规范试片。当检查焊缝坡口等狭小部位，因为规范联络，A1型规范试片运用不方便时，一般可选用C-15/50型规范试片。为了更准确地推断出被检工件外表的磁化状况，当用户需求或技能***有规矩时，可选用D型或M1型规范试片。3.5.1.3规范试片运用办法 a)规范试片适用于连续磁化法，运用时，应将试片无人工缺点的面朝外。为使试片与被检面触摸超卓，可用通明胶带将其平坦张贴在被检面上，并留神胶带不能掩盖试片上的人工缺点。
图J.1用端部最大波幅法测缺点本身高度 J.4.2测定 a)内部缺点:如图J.3a)所示，探头前后扫查，探头相应于探头前后方位缺点的上下端部回波， 按式(J.1)求出缺点本身高度△H。也可用深度1:1调整时基线，直接测定。cos12WWH ,,,,,,,,(J.1) 式中W1和W2分别为缺点上、下端部峰值回波处距入射点的声程，θ为折射角。 b)外表开口缺点:如图J.3b)所示，勘探出缺点端部的峰回波，按式(J.2)和式(J.3)求出缺点 本身高度△H。 缺点开口处与探伤面在同一侧时[见图J.3b)右半图]:cosWH ,,,,,,,,(J.2) 式中W为缺点端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角。 缺点在勘探面的对面时[见图J.3b)左半图]: cosWtH ,,,,,,,,(J.3) 式中W为缺点端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角，t为壁厚。J.5注意事项J.5.1检查横向缺点时，因为成群的横向缺点构成超声束散射，使检查凌乱化，应打磨掉有碍缺点辨认的部位后，再添加X射线检查。J.5.2关于气孔、夹渣等体积状缺点，因为规范添加时回波高度的添加却很小，对比凌乱。如确有
图J.1用端部最大波幅法测缺点本身高度 J.4.2测定 a)内部缺点:如图J.3a)所示，探头前后扫查，探头相应于探头前后方位缺点的上下端部回波， 按式(J.1)求出缺点本身高度△H。也可用深度1:1调整时基线，直接测定。cos12WWH ,,,,,,,,(J.1) 式中W1和W2分别为缺点上、下端部峰值回波处距入射点的声程，θ为折射角。 b)外表开口缺点:如图J.3b)所示，勘探出缺点端部的峰回波，按式(J.2)和式(J.3)求出缺点 本身高度△H。 缺点开口处与探伤面在同一侧时[见图J.3b)右半图]:cosWH ,,,,,,,,(J.2) 式中W为缺点端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角。 缺点在勘探面的对面时[见图J.3b)左半图]: cosWtH ,,,,,,,,(J.3) 式中W为缺点端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角，t为壁厚。J.5注意事项J.5.1检查横向缺点时，因为成群的横向缺点构成超声束散射，使检查凌乱化，应打磨掉有碍缺点辨认的部位后，再添加X射线检查。J.5.2关于气孔、夹渣等体积状缺点，因为规范添加时回波高度的添加却很小，比照凌乱。如确有
需求，对这些缺点应添加X射线复检。附录K(规范性附录)缺点测高办法(三)选用6dB法测定缺点本身高度 K.1规划 本附录规矩了选用6dB法测定缺点本身高度的超声波检查办法。K.2检查人员 按本附录进行检查的人员，应接受必定时间的有关6dB法测定缺点本身高度的训练。并把握必定的断裂力学和焊接基础知识；把握6dB法的特征，对检查中可能呈现的疑问能作出准确的剖析、区别和处理。K.3一般央求K.3.16dB法测定应选用直射波法，如确有困难也可用一次反射回波法。K.3.2活络度应根据需求断定，但应使噪声回波高度不跨越荧光屏满刻度的20%。K.3.3原则上应选Kl，2.5MHz～5MHz探头为宜。K.3.4集合斜探头的声束宽度与声束规划等首要技术参数，均应满足所勘探缺点的央求。K.4测定办法K.4.1测定程序使探头笔直于焊接接头方向扫查，沿缺点在高度方向的拓宽查询回波包络线的形状。若缺点的端部回波比照显着，则以端部最大回波处作为6dB法的起始点；若缺点回波只需单峰，且改动比照显着，则以最大回波处作为起始点；若回波高度改动很小，可将回波活络下降前的半波高值，作为6dB法测高的起始点。见图K.1中的A和A1点。 图K.1用6dB法测缺点本身高度 K.4.2测定 将回波高度的选定值调到满屏高的80%一100%，移动声束使之违背缺点边缘，直至回波高度降
